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斷層掃描測量儀的數(shù)據(jù)特征解讀
點擊次數(shù):1235 更新時間:2022-03-03 打印本頁面 返回
   WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀的斷層掃描分析如同在工件內(nèi)部測量,所有采集的數(shù)據(jù)可用于質(zhì)量保證的范圍和進行評估。斷層掃描儀無損檢測技術例如裝配檢查、損傷和氣孔分析、材料檢驗或損壞檢查,如同測量評估、備用工程應用或幾何比較一樣。
  X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀將X射線斷層掃描成像技術整合到三坐標測量系統(tǒng),實現(xiàn)復雜部件高精度內(nèi)外尺寸全面測量,可選配第二個Z軸,配置其他傳感器(光學、探針、光纖、激光等)。Werth公司的復合式傳感器技術,進一步保證CT測量數(shù)據(jù)更準確。
  斷層掃描測量儀選用廣泛應用的WinWerth軟件,界面友好,操作簡單。可使用擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對。廣泛應用于復雜尺寸測量、*評估、逆向工程、質(zhì)量控制等。
  斷層掃描測量儀的數(shù)據(jù)特征:
  高精密機械軸承技術及線性導軌系統(tǒng),確保實現(xiàn)高精度的測量。
  無論從設計還是結構,測量機*并超出X射線使用安全標準。
  基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構技術,測量速度更快。
  Werth公司技術的X射線傳感器獨立校準系統(tǒng)。
  柵格斷層掃描技術:
  精密測量微小部件;
  掃描更大尺寸工件,提高分辨率;
  擴展測量范圍。
  測量軟件可快速3D重構,也可進行2D測量。
  測量工件內(nèi)部尺寸的同時,也可實現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析。
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